|
IC库存索引: | A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 |
最新IC库存 |
新闻资讯 |
当前位置:首页 > 新闻资讯 |
EP1AGX50DF1152I6N
EP1AGX35DF780I6N EP1AGX50CF484C6N EP1AGX50DF1152C6N EP2AGX125EF29I6N EP2AGX95EF35I6N EP2A40B724I9N EP2A40F1020I8N EP2A40F672I8N EP2A25F672I8N EP2A25B724I7N EP2A15FF672I8N EP2A15B724I7N EP2A15F672I8N EP2AGX95EF35C6N EP2AGX125EF35C5N EP2A40B724C9N EP2A40F1020C8N EP2A40F672C8N EP2A25F672C8N EP2A25B724C7N EP2A15FF672C8N EP2A15B724C7N EP2A15F672C8N EP4SE530F40I3N EP4SE290H29I2N EP4SE290F40I2N EP4SE680H35I3N EP4SE680F43I3N EP4SE680F40I3N EP4SE360H29I2N EP4SE360F40I2N EP4SE290F35I2N EP4SE230F29I2N EP4SE110F29I2N EP4SGX530NF45I2N EP4SGX530KH40I2N EP4SGX530HH35I2N EP4SGX230KF40I2N EP4SGX230HF35I2N |
CCD过程 发布时间:2013/3/3 17:46:53 Teledyne公司DALSA半导体的150毫米CCD过程中提供表面或埋通道运行速度高 达至15V的两个或三个层的多晶硅和一个,两个或三个的金属层。模块化的处理方法,使我们的代工客户,调整工艺参数,以满足最苛刻的要求CTE(99.999%),储存电荷的能力,并暗电流(<1nA/cm2)。基础工艺使用1X投影光刻与2.5μm的设计规则,最多允许管芯尺寸为100mm×100mm的。如有需要,更严格的的对准公差和更小的特征尺寸可以使用5倍光刻,混合使用和匹配或全部步进的方法。最大晶片尺寸达到与步进x 22毫米22毫米,但更大的传感器,可以采用拼接。 我们的CCD技术可广泛调谐; p或n-型,散装或epi起始原料,可以在宽范围内的电阻率,包括浮区硅到10kΩ厘米指定。可以添加客户指定埋通道和障碍植入适合自己的应用,通道停止,防晕染植入物或其他特殊功能。成功的项目,包括抗辐射的PMOS的CCD,和世界上分辨率最高的单片器件超过250MP。 典型的应用是工业和科学,包括航空和卫星成像。Teledyne DALSA的机器视觉业界领先的数码相机的图像传感器,用于这一过程提供许多自定义的变形。美国航空航天局的喷气推进实验室的选择Teledyne公司DALSA的图像传感器的好奇心火星车制造,只是因为它没有在更早的勇气号和机遇流浪者。 为了支持我们所有客户的定制CCD过程中,我们提供了一个范围广泛的服务,光掩膜制造完成设备的特性。 Teledyne公司DALSA半导体经营的CCD晶圆代工服务作为一个单独的手臂从Teledyne公司的DALSA组的其他业务单位。客户信息和数据的保密性是有保证的。
设计规则
*湿的金属蚀刻的选择。 联系DALSA半导体Teledyne公司收到我们的最新的详细设计规则文件。
CCD的流程 |
|