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EP1AGX50DF1152I6N
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SN65LVDS315RGE原装现货热销/TI品牌代理/价格/图片/PDF 发布时间:2016/12/24 9:28:39 这是一个相机sn65lvds315序列化程序 1•MIPI csi-1和SMIA中共支持
将8位并行相机数据为mipi-csi1或
•直接连接到OMAP CSI接口兼容的串行信号SMIA CCP。
•4×4毫米QFN封装
该设备将并行8位数据转换成两个子—
•ESD额定值> 3 kV(HBM)摄像头输入端口的低压差分信号(SubLVDS)系列
和> 2 kV(HBM)所有其他端口的数据和时钟输出。同时,序列化的数据
•像素时钟范围3.5 - 27 MHz的差分串行数据输出
在输出时钟差分时钟信号输出。•三操作模式来节省功率,时钟频率为8X DCLK输入像素
–主动模式VGA摄像头30帧:7毫安的时钟速率。
-典型的关机和待机:0.5
的sn65lvds315支持三种供电模式
-工作温度范围- 40°C至85°C(关机,待机和活动),以节省电力。
输入数据电压范围从1.8 V至3.3 V
所有的CMOS输入提供故障安全运行保护
•EMI输入从损坏在上电和避免
电流输入到设备在上电输入。
2应用程序的sn65lvds315核心供应1.8 V。
提供更大的灵活性,相机数据输入
•摄像头主机控制器(如OMAP2420处理器为,支持1.8 V至3.3 V和OMAP2430,omap3430供应范围)装置的特点是在空气中运行
•手机和智能手机的温度为40°C至85°C.
冲裁过程中与低,和sn65lvds315数据输出DOUT呈现高信号。典型的功率
消隐时间消耗测试模式由一个数据字组成。图案重复本身
在整个测量。最大(或最坏情况)的sn65lvds315功耗使用交流测试1010测试
模式。该模式在整个测量过程中重复本身。该sn65lvds315抖动性能使用模式强调的互连测试,特别是
测试码。测试模式使用非常长的连续长度的位。该模式结合非常高
和低数据速率,并最大限度地提高开关噪声。该模式是自我重复的持续时间的测试。sn65lvds315相机串行转换8位并行数据到mipi-csi1 SMIA CCP或相机
兼容串行信号。
并行数据锁存与像素时钟DCLK时钟输入的下降沿(D0:D7),和控制
输入VS和HS用于确定行和帧同步。根据房协和对的状态
sn65lvds315应产生一个同步码(帧SOF,开始帧结尾,开始线
溶胶和行尾EOL)将被纳入数据流。随后的锁存数据
序列化的SubLVDS驱动传送(可输入数据或同步代码)。和
差分输出时钟的频率是输入像素时钟速率的八倍。
的sn65lvds315实施额外的控制每帧大小。如果模式引脚高,那么
装置将产生一个EOF同步代码时传输线属于同一数量
框架达到允许的最大值,以避免帧溢出。
的sn65lvds315支持三供电模式(关机、待机和活跃)以节省电力。TXEN
输入可以用来把sn65lvds315在关机模式。的sn65lvds315进入活动备用
模式如果输入时钟DCLK,停止。这最大限度地减少功耗,而不需要控制
外部引脚。
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