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EP1AGX50DF1152I6N
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MAX4949ELA原装现货热销/MAXIM品牌代理/价格/图片/PDF 发布时间:2016/11/28 10:14:19 max4943–MAX4946 / MAX4949过压保护家人 器件具有低80mΩ罗恩(典型值
内部FET和保护低压系统对
电压高达28V。这些设备驱动
可选的外部PFET保护下来到28v时
用反向电流保护连接到负载。
当输入电压超过过电压阈值时,
内部FET关闭以防止损坏
保护组件。
所有的开关功能的最小1.2A的电流限制保护。
在短路发生时
max4944b和max4945b开关在一个地方
latchoff状态,开关关闭,并保持关闭。
对于自动重试设备,开关关闭,连续
检查后重试时间为15ms(典型值)。
过压阈值(OVLO)预设7.4v,
6.35v,5.8v,4.56v,或8.9V。欠压锁定
(UVLO)阈值设定2.45v和4.15V。
当输入电压低于undervoltagelockout
(UVLO)阈值,器件的输入电流
待机模式。(见订购信息/
在UVLO / OVLO更多细节指南)。
所有的设备都提供了在一个小的,µ引脚DFN(2mm x
2mm)包被指定为运行在
- 40°C至85°C温度范围。
输入电压保护高达+28五
♦NFET开关集成
♦预置过压保护程度
7.40v(max4943)
6.35v(max4944_)
5.80v(max4945_)
4.56v(MAX4946)
8.90v(MAX4949)
♦低电流欠压锁定模式
♦短路保护(latchoff /重试)
♦内部15ms(典型值)的启动延迟和重试次数
♦输入电压电源良好的逻辑输出
♦热关断保护
♦小,引脚(采用2mm x 2mm)µDFN封装
max4943–MAX4946 / MAX4949过压保护
器件具有低罗恩内部FET和保护
低压系统对电压高达28V。如果
输入电压超过过电压阈值,
内部MOSFET关闭以防止损坏的
保护元件。这些设备还驱动
可选的外部PFET保护下来到28V。如果
适配器电压低于地面,PFET关闭
为了防止损坏受保护的组件
负电压曝光。内部电荷泵
15ms(典型值)反跳时间防止误开启
启动时内部开关。一个开漏,低电平
逻辑输出是可用的信号,一个成功的
上电发生。
max4943–MAX4946 / MAX4949有内部
控制导通的振荡器和电荷泵
内部开关。内部振荡器控制
使电荷泵开启的计时器
控制的漏极开路的讯息调控状态
输出。如果输入电压VIN > < VUVLO如果vovlo,内部
振荡器关闭,从而禁用电荷泵。
如果< < vovlo VUVLO VIN,内部电荷泵
启用.电荷泵启动,后为15ms(典型值)
内部延迟,打开内部开关(见图2)。
讯息调控是高举在启动之前,30ms讯息调控
(典型值)消隐期届满。在这一点上,该设备是
在它的状态。
在任何时候,如果输入电压低于或高于VUVLO
vovlo,讯息调控拉高和电荷泵
被禁用。
内部开关
的max4943–MAX4946 / MAX4949纳入
与80mΩ内部NFET(典型值)罗恩。开
内部驱动的电荷泵产生一个5V
输入电压以上电压。内部开关是
配备1.2A(min)电流限制保护
关闭开关在10µ(典型值)中的过电流
故障状态。
重试
的max4943–MAX4946有过流自动重试
功能:打开开关后再次为15ms(典型值)
重试时间(参见图3)。如果故障的负载条件仍然
在消隐时间后,开关再次关闭
和周期重复。快速关断时间和
15ms重试时间的结果在一个非常低的占空比保持
功耗低。如果故障的负载条件不
现在,开关仍然在。
门闩
的max4944b / max4945b / MAX4949没有
自动重试功能,和开关锁关闭后
过流故障。开关保持关闭,直到过流
故障已被删除。开关转回来
当适配器电压低于VUVLO和
然后返回到有效的工作范围。
当输入电压高于地面时,大奖赛拉
在pFET低转。一个内部钳位保护
通过确保GP在电压不PFET
超过19v(max)当输入(在)上升至+28五。
欠压锁定(UVLO)
的max4944l / max4945l / MAX4946 / MAX4949有
2.45v(典型值)欠压锁定阈值(VUVLO),
而其余的设备有一个4.15v VUVLO(典型值)
门槛.当输入电压低于VUVLO,讯息调控高
阻抗。
过电压锁定阈值(OVLO)
的max4943有7.4v过压阈值(典型值)
(vovlo),该max4944_有6.35v(典型值)vovlo
阈值的max4945_有5.80v(典型值)vovlo
门槛,MAX4946有4.56v(典型值)vovlo
阈值和MAX4949有8.90v(典型值)vovlo
门槛.当输入电压大于OVLO,讯息调控是
高阻抗。
讯息调控
讯息调控是一个积极的低,开漏输出,断言
低时,<< << vovlo VUVLO VIN为30ms年(典型值)期。
连接一个上拉电阻从讯息调控的逻辑
主机系统的I / O电压。在短路
故障,讯息调控可能deassert由于Vin不在
有效工作电压范围。
热关断保护
的max4943–MAX4946 / MAX4949具有热关断
电路。当连接处关闭时,内部开关关闭
温度超过175°C(典型值)和立即
进入故障模式。该设备退出热关断
在结温冷却40°C(典型值)。
应用程序的信息
在旁路电容器
对于大多数应用程序,旁路到GND与1µF
陶瓷电容器尽可能接近的设备
使±15kv(HBM)在引脚的ESD保护。如果
±15kv不是必需的,也需要在没有电容器
在。如果电源有显着的电感由于
长引线长度,注意防止过冲
由于液晶槽电路,并提供保护,如果必要的话
为了防止超过+30 V绝对最大
评级在。设备不允许电流流入流出。这个
PFET关闭时的电压之间的GP和
小于PFET栅极阈值电压。
ESD测试条件
静电放电的性能取决于一些条件。
的max4943–MAX4946 / MAX4949被指定为
±15kv(HBM)典型静电放电电阻时是
绕过一个1µF陶瓷电容器接地。
人体模型
图4显示了人体模型和图5
显示当放电时产生的电流波形
成低阻抗。该模型由一个
100pF的电容充电到感兴趣的ESD电压,
然后通过一个设备进入该设备
1.5kΩ电阻
IEC 61000-4-2
IEC 61000-4-2标准涵盖ESD测试
成品设备性能。它不具体
参考集成电路。的max4943–
MAX4946 / MAX4949是±15kV空气间隙的规定
放电和±8kV接触放电IEC 61000-4-2
在销的时候是绕过一个1µF地
陶瓷电容器。
使用的测试之间的主要区别
人体模型和IEC 61000-4-2是一个高峰值
在IEC 61000-4-2的电流,由于较低的串联电阻。
因此,测量电压的ESD承受IEC
61000-4-2一般低于测量使用
人体模型。图6显示了IEC 61000-4-2
模型。接触放电方法连接
探头之前的设备的探头。这个
空气间隙放电试验涉及接近装置
带电荷的探针。
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